Salta al contenuto
VuFind
  • Carrello dei libri: 0 elementi (Pieno)
  • Entra
    • English
    • polski
    • Українська
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
Avanzata
  • Monitorowanie procesów binarny...
  • Citazione
  • Invia email
  • Stampa
  • Esporta il record
    • Esporta a RefWorks
    • Esporta a EndNoteWeb
    • Esporta a EndNote
    • Esporta a MARC
  • Aggiungi alla lista
  • Aggiungi al carrello Rimuovi dal carrello
  • PLink permanente
Copertina
Codice QR

Monitorowanie procesów binarnych za pomocą kart kontrolnych sum skumulowanych / Andrzej Iwasiewicz.

Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autore principale: Iwasiewicz, Andrzej (1935-2012) (Autor)
Natura: Articolo
Lingua:polacco
Accesso online:https://repozytorium.ka.edu.pl/handle/11315/27918
Documenti correlati:Fa parte di: Folia Oeconomica Cracoviensia
  • Posseduto
  • Descrizione
  • Commenti
  • Documenti analoghi
  • MARC21
Lascia un commento!
Entra

Documenti analoghi

  • Monitorowanie procesów binarnych / Andrzej Iwasiewicz.
    di: Iwasiewicz, Andrzej (1935-2012)
  • Monitorowanie przebiegu procesów integracyjnych z WE / Marek Lubiński, Krzysztof Madejski, Andrzej Sznajder ; kier. nauk. Danuta Hübner ; Urząd Rady Ministrów. Biuro ds. Integracji Europejskiej oraz Pomocy Zagranicznej.
    di: Lubiński, Marek
    Pubblicazione: (1993)
  • Ilościowo-jakościowy próg rentowności / Andrzej Iwasiewicz.
    di: Iwasiewicz, Andrzej (1935-2012)
  • O procedurze kart kontrolnych w przypadku, gdy zmienna diagnostyczna ma rozkład asymetryczny / Janusz Wywiał.
    di: Wywiał, Janusz
  • Przewidywanie probabilistyczne zdarzeń binarnych / Jerzy M. Wilczyński ; Polska Akademia Nauk. Komitet Badań Psychologicznych.
    di: Wilczyński, Jerzy M.
    Pubblicazione: (1980)
Biblioteka PAN

Opzioni di ricerca

  • Ultime ricerche
  • Ricerca avanzata

Cerca

  • Scorri il catalogo
  • Scorri in ordine alfabetico
  • Esplora selezioni
  • Materiali riservati (per i corsi)
  • Nuovi documenti

Serve aiuto?

  • Suggerimenti per la ricerca
  • FAQ